高度靈活測(cè)試，解決功率器件動(dòng)態(tài)特性分析難題

該系統(tǒng)由泰克高分辨率示波器，光隔離探頭，雙脈沖信號(hào)源，高壓電源，功率器件雙脈沖測(cè)試驅(qū)動(dòng)板，防護(hù)艙，芯片溫控系統(tǒng)，和自動(dòng)化測(cè)試軟件組成。以機(jī)柜系統(tǒng)形式交付客戶，可以通過上位機(jī)軟件配置測(cè)試設(shè)備和測(cè)試項(xiàng)目，獲取測(cè)試結(jié)果并生成數(shù)據(jù)報(bào)告。

系統(tǒng)方案旨在幫助解決客戶在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計(jì)高速工作的驅(qū)動(dòng)電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，如何優(yōu)化和抑制測(cè)試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計(jì)、失效分析、進(jìn)廠檢測(cè)和試產(chǎn)階段快速評(píng)估器件性能，更快應(yīng)對(duì)市場需求改善產(chǎn)品性能。也幫助客戶快速驗(yàn)證自研驅(qū)動(dòng)電路，加速應(yīng)用端解決方案落地。

測(cè)試系統(tǒng)具備極高的測(cè)試靈活性，軟硬件設(shè)計(jì)方案均由國內(nèi)團(tuán)隊(duì)開發(fā)，可以根據(jù)客戶需求定制驅(qū)動(dòng)電路板設(shè)計(jì)，更改柵極電阻，負(fù)載電感等關(guān)鍵器件參數(shù)，滿足多種客戶測(cè)試和應(yīng)用場景需求。

高效率，高精度

使用泰克公司最新推出的新五系高分辨率示波器和專門用于高壓差分信號(hào)測(cè)試的光隔離探頭，為三代半導(dǎo)體器件動(dòng)態(tài)特性表征帶來更高帶寬和更高測(cè)試精度。泰克新五系示波器可以最高支持8通道同時(shí)測(cè)量，對(duì)于半橋結(jié)構(gòu)雙脈沖測(cè)試電路，可以同時(shí)對(duì)上下管信號(hào)進(jìn)行同步測(cè)試。光隔離探頭提供了極高的共模抑制比，可以在上管測(cè)試中提供更準(zhǔn)確的波形數(shù)據(jù)。針對(duì)系統(tǒng)中高速電流的測(cè)試，使用高精度電流傳感器，得到更高的電流測(cè)試帶寬和更準(zhǔn)確的電流波形。同時(shí)系統(tǒng)還提供了動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻測(cè)試功能，可以在高速開關(guān)狀態(tài)下對(duì)器件的動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻進(jìn)行評(píng)估，幫助客戶更準(zhǔn)確的了解器件動(dòng)態(tài)特性?？蛇M(jìn)行DPT/Qg/Rds(on)測(cè)試，單次測(cè)試即可完成開關(guān)特性和反向恢復(fù)特性測(cè)試。整個(gè)系統(tǒng)采用低回路電感設(shè)計(jì)（<50nH@2000V系統(tǒng)），測(cè)試方案完全符合IEC60747-8/9標(biāo)準(zhǔn)

易用度高

• 符合人體工學(xué)的外觀設(shè)計(jì)，確保使用的舒適性
• 簡潔美觀的軟件設(shè)計(jì)，操作簡單易學(xué)
• 軟硬件開放設(shè)計(jì)，更高靈活度，可以支持客戶進(jìn)行驅(qū)動(dòng)板更新設(shè)計(jì)以應(yīng)對(duì)不同封裝器件測(cè)試
• 實(shí)時(shí)保存測(cè)試結(jié)果（CSV），可選擇同時(shí)保存波形數(shù)據(jù)，生成報(bào)告

開放實(shí)驗(yàn)室

泰克科技先進(jìn)半導(dǎo)體開放實(shí)驗(yàn)室匯集了泰克與國內(nèi)方案合作伙伴共同開發(fā)的針對(duì)功率半導(dǎo)體器件/模塊的參數(shù)測(cè)試方案和全新的可靠性測(cè)試方案，實(shí)驗(yàn)室測(cè)試能力覆蓋廣、技術(shù)全，從傳統(tǒng)硅基器件到三代半功率器件，高壓到低壓，器件到模塊，一站式、全方位的特性測(cè)試和表征。

泰克功率器件開放實(shí)驗(yàn)室具備遠(yuǎn)程訪問和線上直播的能力，可以隨時(shí)接入查看測(cè)試進(jìn)程，幫助用戶了解實(shí)驗(yàn)操作方法和測(cè)試流程。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)嚴(yán)格遵守管理流程，一對(duì)一提供給指定客戶，同時(shí)提供數(shù)據(jù)解讀分析服務(wù)。